外觀升級(jí) 真空衰減泄漏測(cè)試儀 儀器介紹 上海理濤

A測(cè)試腔： 

測(cè)試腔有一個(gè)用于容納供試包裝的下腔體和用于關(guān)閉測(cè)試腔的上腔體。圖1示出了用于測(cè)試透氣屏障蓋材包裝的測(cè)試腔。測(cè)試夾具上蓋有一個(gè)彈性囊,用來在測(cè)試過程中覆蓋包裝的透氣屏障。圖示出了用于測(cè)試非透氣硬包裝的測(cè)試腔。后兩種測(cè)試腔沒有彈性囊。

B托盤槽或下腔體： 

測(cè)試腔的下半部分其尺寸設(shè)計(jì)成緊密貼合供試包裝的外形,同時(shí)也要使氣體易于環(huán)繞供試包裝流動(dòng)。如果氣流不能環(huán)繞包裝流動(dòng),泄漏點(diǎn)會(huì)被堵塞。相反,測(cè)試腔和測(cè)試包裝之間的間隙越大,檢漏靈敏度越差,因?yàn)樵谳^大的測(cè)試腔體中,來自包裝泄漏的真空衰減將會(huì)減小。

C上蓋或上腔體： 

被設(shè)計(jì)成能嚴(yán)實(shí)地密封閉合后的測(cè)試腔。

D真空衰減測(cè)試系統(tǒng)： 

真空衰減測(cè)試系統(tǒng)由一個(gè)真空源和壓力傳感器組成。真空源用于在測(cè)試周期開始時(shí)在測(cè)試腔內(nèi)建立所需的真空,而一只壓力傳感器(絕壓或表壓)或與另一只壓差傳感器結(jié)合,前者用來監(jiān)測(cè)真空度,后者用來監(jiān)測(cè)在測(cè)試周期內(nèi)壓力隨時(shí)間的變化。預(yù)期使用較高目標(biāo)真空度(如+1mbar或不到+1mbar,)的測(cè)試系統(tǒng),宜設(shè)計(jì)成較高的目標(biāo)壓力測(cè)量精度和Z小的系統(tǒng)泄漏,氣體外泄可能影響測(cè)試中測(cè)量信噪比。

E絕壓傳感器與表壓傳感器對(duì)比：

所有儀器都包括一只用來監(jiān)測(cè)在整個(gè)測(cè)試周期中測(cè)試壓力的傳感器。當(dāng)需要精密而真實(shí)的壓力讀數(shù)時(shí)(即不受因氣候或海拔導(dǎo)致大氣壓變化的影響),絕壓傳感器優(yōu)于表壓傳感器。當(dāng)進(jìn)行高真空度下液體泄漏測(cè)試時(shí),采用絕壓傳感器。